Определение с помощью МСМ латерального распределения упругих напряжений, вызванных механической деформацией.

Авторы: Бухараев А.А., Бизяев Д.А., Нургазизов Н.И., Чукланов А.П., Гумаров Г.Г., Чирков В.В.

Методом магнитно-силовой микроскопии (МСМ) показано, что за счет магнитоупругого эффекта нанесенные на подложку микрочастицы пермаллоя чувствительны к локальным упругим напряжениям, вызванным механической деформацией подложки. Анализ экспериментальных и смоделированных МСМ изображений от микрочастиц (см. рисунок), позволил определить величину наведенной локальной магнитоупругой анизотропии в каждой из микрочастиц, покрывающих всю поверхность образца. Эти данные подтверждены с помощью сканирующего магнитополяриметра. Полученные результаты МСМ измерений могут использоваться для определения с высоким пространственным разрешением латерального распределения в подложке значений компонент тензора механических напряжений.

Публикации:

1. Бухараев А.А.: Труды XIX Международного симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, 10–14 марта 2015 г., т. 1. c. 231–232. Нижний Новгород 2015.

2. Biziyaev D.A., Bukharaev A.A., Kandrashkin Yu.E., Gorev R.V., Mingalieva L.V., Mironov V.L., Nurgazizov N.I., Khanipov T.F.: Abstracts of the International Сonference “Modern Development of Magnetic Resonance”, September 22–26, 2015, p. 54–55. Kazan 2015.

3. Чукланов А.П., Нургазизов Н.И., Бизяев Д.А., Ханипов Т.Ф., Бухараев А.А., Петухов В.Ю., Чирков В.В., Гумаров Г.Г.: 19-ая Международная научная школа “Когерентная оптика и оптическая спектроскопия”, 5–7 октября 2015. Сборник статей, с. 223–227. Казань 2015.